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场发射透射电子显微镜
吉林大学
日本技术株式会社，JEM－2100F , 200KV
吉林省
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检测范围

力学；物理学；化学；天文学；材料科学；矿山工程技术；冶金工程技术；机械工程

仪器参数

JEM－2100F:加速电压：200Kv；1. 点分辨率0.23nm；2. 晶格分辨率0.102nm；3. STEM晶格分辨率0.2nm；4.最小束斑0.5nm；可实现超高分辨率图像的观察，同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 束斑尺寸在0.5nm以下，获得的图像质量高。
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