检测范围
该设备为一款集粉末衍射、应力和极图分析、小角散射、薄膜分析等为一体的旗舰级X射线分析设备，可以进行材料的物相鉴定及定量分析；原子排列与占位分析；纳米材料的晶粒度和颗粒度测定；应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等
仪器参数
1.室温X射线衍射 扫描角度（2θ）：10～150#176;扫描速度：10～15#176;/min 2. 高温原位X射线衍射 升温范围: R.T.～1200℃；升温速率：100/min 扫描速率：10～150/min3.小角散射： 测量角度：0.5 ～ 50；角度分辨率：0.10(2 θ)
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