光电子能谱仪(XPS)
华南理工大学
英国Krates公司,Axis Ultra DLD,*
广东省
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分析仪器

检测范围

各种固体材料(包括粉末材料,如金属、半导体、陶瓷、催化剂、矿物、导电玻璃、表面镀膜材料等)表面的元素成分定性、定量检测及元素价态分析;样品元素组分沿深度(纵向)变化的检测;材料表面污染物分析;各种镀膜材料的镀膜成分定性,定量分析,膜层的结构分析;材料表面

仪器参数

能量分辨率:0.48eV,成像空间分辨率:3微米,最小分析区域:15微米
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