X射线衍射仪(XRD)
华南理工大学
荷兰帕纳科公司,*Empyrean镜影 *
广东省
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所有仪器

物理测试

分析仪器

检测范围

材料物相分析:用一束单色X射线照射在多晶(粉末)样品上,X射线管和探测器以相同角速度绕测角仪圆轴线相向旋转,当入射线与平行于样品表面的某一指数晶面之间的夹角满足布拉格方程时,即可产生衍射。用探测器接收衍射信号并累计其强度。随着衍射角从低角至高角增大,探测器

仪器参数

X射线发生器:最大输出功率:不小于3kW,额定电压:不小于60kV,额定电流:不小于60mA;测角仪定位方式:采用光学编码器技术,光学定位;扫描方式:θ-θ模式; 驱动方式:步进马达驱动;测角仪半径:不小于200mm;2θ转动范围:-10°~168°;最小步长:0.0001°,角度重复性:0.0001;最高定位速度:优于900°-min
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