扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
兰州大学
日本电子公司,JSM-6510
甘肃省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

主要用于微体物质观察成像、鉴别岩矿发光中心和缺陷的空间分布、锆石微区元素、测年阴极发光图像获取。

仪器参数

分辨率高真空模式:3.0nm(30kV),8.0nm(3kV),15nm(1kV);分辨率低真空模式:4.0nm(30kV);放大倍率:×5至×300,000 (图像尺寸:128mm×96mm);图像模式:二次电子像、REF像、成分像、凹凸像、阴影像;加速电压:0.5kV至30Kv;电图像位移:±50μm(WD=10mm);样品台:大型全对中样品台,X:80mm,Y:40mm,Z:5mm至48mm,倾斜:-10°至﹢90°,旋转:360°;最大样品尺寸:直径150mm;波长范围:185-850mm。
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