透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
北京航空航天大学
日本电子公司,JEM-2100(HT)
北京市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

材料微观结构研究、元素分析

仪器参数

加速电压200kv,点分辨率0.25nm,线分辨率0.14nm

仪器特色&服务特色

金属塑性变形机制的研究
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