扫描电子显微镜(Scanning Electron microscope(SEM))
广西壮族自治区中国科学院广西植物研究所
Zeiss,EVO18
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检测范围

在高真空条件下用电子束扫描样品表面,做高倍率的表面外观形貌观察。

仪器参数

高真空SE分辨率3.0nm(30kV),优于10nm(3kV),低真空BSE分辨率:优于4.5nm(30kv) ;加速电压范围200V-30KV;放大倍数:5X ~1000 KX;钨灯丝光源;
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