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透射式电子显微镜
桂林理工大学
日本电子（JEOL），JEM-2100F
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检测范围

基础研究；固体物质微结构研究；高分辨显微术；晶体结构及晶体缺陷分析；物质微区元素成分测定；先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。

仪器参数

点分辨率：0.19nm ；  线分辨率：0.14nm ；  加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV ；  倾斜角：±25°；  TEM分辨率：0.20nm。
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