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场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
桂林理工大学
卡尔蔡司显微镜有限公司，ΣIGMA
我们目前尚未与桂林理工大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

材料的微观形貌、组织观察，材料断口分析和失效分析，微区元素定量、定性成分分析，晶体、晶粒的相鉴定，晶体、晶粒取向测量。

仪器参数

1.二次电子分辨率：1.3nm（20kv）；2.放大倍数：12-1000000X；3.放大倍率误差：±3%以内；4.探针电流：4pA-20nA(4pA-40nA可选)；5.加速电压：0.1-30kv；6.能谱仪分辨率：优于127eV。
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