电子背散射衍射系统(Electron BackScattered Diffraction)
桂林理工大学
牛津仪器公司,Oxford-HKL Channel5
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检测范围

电子背散射衍(EBSD)技术拓展了扫描电镜的应用范围,使其不仅能对材料进行形貌观察和成份分析,而且能够对材料晶体结构、粒取向等晶体学特征分析。实现诸如矿物相鉴定,变形机制研究确位错滑移系,显微构造定量化,变质过程研究,结晶学优选方位和约束化学微量取样等。

仪器参数

空间分辨率:0.1mm;角度分辨率 :0.5度;采集和解析速:每秒106点;离样品点;离样品聚焦点的水平距离优于7mm,花样更清晰;加速电压3KV,束流小于500pA时可采集到花样;楔型探测器与能谱仪系统实现硬件和软件双重保证的一体化。
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