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场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
重庆大学
日本电子株式会社，JEOL JSM-7800F
重庆市
我们目前尚未与重庆大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

观察材料的表面形貌（nm级别）和元素分布及含量

仪器参数

分辨率：0.8nm@15KV；放大倍数:X25~X1000000；探针束流：1pA~200nA；加速电压：10V~30KV；探测器：高位检测器、低位检测器、背散射电子检测器、高位二次电子检测器。

仪器特色&服务特色

满足了校内化工、物理、材料、资环、生物等学院多个课题组的测试需求，同时还对校外如三医大、重医、西南医院等科研和企事业单位服务。
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