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透射电子显微镜(Transmission Electron microscope)
重庆大学
日本电子株式会社，JEM-2100透射电子显微镜
重庆市
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分析仪器

检测范围

对材料内部微观结构，组织成分，晶格，颗粒形貌，大小等进行高分辨的观察，可广泛用于半导体，材料科学，生命科学等研究领域。

仪器参数

电子枪： LaB6（六硼化镧）
点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压： 200kV
束斑尺寸：1.0~25 nm
放大倍数（高倍）：2000~1,500,000
放大倍数（低倍）：50~6,000
倾斜角：±35°

仪器特色&服务特色

每年服务科研项目10项，支持本科生，研究生毕业设计50余项，发表论文30余篇。
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