场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
重庆大学
日本电子株式会社,JSM-7800F
重庆市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

制备关联电子体系薄膜、人工结构超晶格等材料.

仪器参数

分辨率:0.8nm@15KV;放大倍数:X25~X1000000;探针束流:1pA~200nA;加速电压:10V~30KV;探测器:高位检测器,低位检测器,背散射电子检测器,高位二次电子检测器;

仪器特色&服务特色

每年服务科研项目50余项,包括国家重点重大项目,发表论文100余篇。?
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