JXA8100型电子探针分析仪
中国科学院地质与地球物理研究所
日本JEOL公司,JXA8100
北京市
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检测范围

固体样品表面微区(微米级)成分分析。包括元素组成的定性与定量(>0.01%)分析,元素面分布(X-ray mapping)以及背散射电子图象(BSE)的观测与采集。
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