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扫描电子显微镜 (SEM)
中国科学院地质与地球物理研究所
德国LEO电子公司，LEO 1450VP
北京市
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检测范围

主要用于样品表面显微结构的观察和鉴定分析。有充足的备用接口可配多种探测器，最大限度地扩展了分析功能。红外CCD样品显示系统可直观地看到样品室中的样品，方便调解样品。英国牛津仪器公司生产 INCA ENERGY 300　X射线能谱仪作为附件装在扫描电子显微镜上，实现对样品的形
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