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扫描电镜含能谱仪(Scanning Electron Microscope（SEM）)
哈尔滨师范大学
日立公司，S-4800/350
黑龙江省
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仪器参数

二次电子分辨率：1.0 nm(15 kV)；2.0 nm(1 kV)；背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV)；电子枪：冷场发射电子源，加速电压：0.5 ~ 30 kV（0.1 kV/步，可变）；放大倍率：×30 ~ × 800,000；
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