检测范围
可以测定晶胞参数及收集衍射强度，并根据衍射强度测定出一个单晶样品的标准样品的三维立体结构及分子晶体中的排列状况，主要应用于；无机化学、结构化学、矿物学、材料科学、药物合成、等
仪器参数
1. SMARTAPEXCCD面探测器；
2. d8测角仪：三轴测角仪X为54.74度，量小步长0.00001度，
3. X射线发生器Kvistoloflex 1760-80;量大功率3KW，高压40-50KW电流5-35
MA，4.MO靶X射线管KFN-Mo-2K-90最大输出功率2400W。5. XYZ装晶体测角头；标准49/64mmXYZ测角头。
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