检测范围
X射线单晶分析装置用以测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学
仪器参数
Active 面积：62mm x 62 mm；芯片面积 62mm x 62 mm；1：1 偶合，无缩锥比；4 个数据输出端口，增益（灵敏度） > 170 电子/Mo 光子；暗电流：0.01e/pixel/s；整体透光率>70%；高分辨率磷光膜；最大动态范围：750,000 e/pixel,各轴角度范围及角度重现性：2Theta>135°，≤0.0001°；ω 360°，≤0.0001°；Phi 360°，≤0.0005°；
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