透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
海南大学
日本电子,JEM-2100
海南省
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检测范围

JEM-2100透射电镜能对材料的显微形貌、结构及化学成份进行实时分析。通过EDX成份分析对纳米微区或微粒进行定性或定量分析,在物理学、化学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等领域皆可应用;还可以观察细胞的精细结构,已应用于研究生命科学和生物医药学的各个领域,

仪器参数

电子枪:    LaB6(六硼化镧)
点分辨率:0.23 nm
线分辨率:0.14 nm
加速电压: 200kV
束斑尺寸:1.0-25 nm
放大倍数(高倍):2000-1,500,000
放大倍数(低倍):50-6,000
倾斜角:±35o

仪器特色&服务特色

校内科研服务,发表了大量高水平论文。
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