多晶X射线衍射分析仪(X-ray Diffraction)
东华理工大学
布鲁克公司,D8-A25
江西省
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分析仪器

检测范围

对晶体粉末样品进行X射线衍射分析,获取被测试样品的晶体内部结构、化学组成及表面形态分析。主要用于晶体材料和矿物材料的表征。分析响应时间快速,准确度高,仪器稳定性能好。

仪器参数

(1)        Cu靶X光管电压≤40KV,电流≤40mA;
(2)        测角仪工作方式:?/?方式;
(3)        扫描范围:0-140°;
(4)        测角仪精度:0.0001°,准确度≤0.02°
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