场发射扫描电子显微镜(scanning electron microscope)
东华理工大学
捷克,NOVA NANOSEM450
江西省
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检测范围

扫描电镜主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射,从而产生样品表面放大的形貌像。它可用于化学、物理、地质、材料、生物、医学等各个领域,实现固体样品的

仪器参数

分辨率:高真空:1.0nm(15kV),1.4nm(1kV)
    低真空:1.8nm(3kV,采用Helix探头)
    聚焦范围:模式I为1mm~60mm,模式Ⅱ为1mm~7mm(1kV)
加速电压:50V~30kV,连续可调
电子束流:可达200nA
放大倍数:100~600000
倾斜角度:-15°~75°
样品台移动范围:X=Y=110mm,Z=25mm
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