检测范围
利用 X射线衍射表征纳米材料：
1．晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽， 通过Scherrer公式计算出晶粒大小。
2．物相分析：半导体膜等表面生长纳米材料的研究，在单晶片或其它衬底上利用各种工艺长出不同的物相。
3．材料结构的全面表征：物相、晶粒大小、微应力等，如纳
仪器参数
1.测角仪角度重现性：0.0001度
2.闪烁计数器线性范围：2 ～ 10-6 cps
仪器特色&服务特色
1.为2010年973课题《透明导电膜APCVD制备与碳纤维复合材料液体模塑成型技术的研究》的顺利开展提供了检测支撑；
2、为蚌埠中恒新材料科技有限责任公司的氧化锆、钛酸钡等材料提供检测服务。
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