高低真空扫描分析电子显微镜-测试100仪器共享平台

首页 > 所有仪器> 电子光学 > 高低真空扫描分析电子显微镜

高低真空扫描分析电子显微镜(Analytical High/low Vacuum Scanning Electron Microscope)
所在单位：	中山大学
品牌/型号：	日本电子株式会社，JSM-6380LA
所在地区：	广东省
仪器说明：	我们目前尚未与中山大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

所有仪器

纳微观测和分析

高真空分辨率：3.0nm in SEI、4.0nm in BEI；低真空分辨率：4.0nm in BEI；放大倍数：x8-x300000；加速电压：0.5~30kV；放大倍数误差：8%

支撑重大项目：二氧化碳共聚物合成及材料研究、二氧化碳全降解塑料的加工与应用研究

如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商提交需求