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透射电子显微镜JEM2010FEF(Transmission Electron Microscope JEM2010FEF)
武汉大学
日本电子（JEOL），JEM2010FEF
湖北省
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检测范围

可以方便进行高分辨、分析电子显微学等研究工作。

仪器参数

场发明枪（FEG）+Ω型内置式能量过滤（EF）+扫描透射（STEM）：点分辨0.19nm（超高分辨报极靴UHR)，晶格分辨0.102nm，STEM晶格分辨0.2nm，能损分辨0.7eV，最小束斑0.5nm，加速电压200kV。

仪器特色&服务特色

发表论文 篇.其中:三大检索48篇,核心刊1篇.一区论文14篇
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