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透射电子显微镜JEM2010(HT)(Transmission Electron Microscope JEM2010(HT))
武汉大学
日本电子（JEOL），JEM2010(HT)
湖北省
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检测范围

可以方便进行材料微区形态和结构分析工作

仪器参数

高倾转型（HT）极靴，LaB6灯丝，点分辨率0.25nm，晶格分辨率0.14nm

仪器特色&服务特色

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