透射式电子显微镜(无)
同济大学
日本 HITACHI,TEM H-800|| ||60万倍,200KV
上海市
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检测范围

功能:纳米颗粒的形貌观察、 晶体材料的衍衬形貌观察、选区电子衍射。 应用范围:金属、半导体、无机、粉体、薄膜

仪器参数

加速电压:200KV;
放大倍率:×1000~×600000;
样品倾斜度: ±60O;
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