精密表面形貌测量仪
合肥工业大学
泰勒公司,Talysurf C
安徽省
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所有仪器

测量/计量仪器

检测范围

仪器主要应用领域和提供服务范围:半导体晶片 ,液晶产品(CS,LGP,BIU),微机电系统,光纤产品,数据存储盘(HDD,DVD,CD),材料研究,精密加工表面,生物医学工程

仪器参数

精度: 优于λ/100峰谷值;仪器精度: λ/1000均方根值;峰谷值重复性: λ/300;均方根值重复性: λ/2000;空间取样分辨率: 640x480像素(6倍放大时,17mm通光孔径);分辨率: λ/12000;数据采集时间: 高分辨率200ms(10幅图像)数据模式: 8位;平均模式: 光强平均及相位平均;光强平均采集速率: 高分辨率每次测量1.333秒;测量技术:干涉相位调制+相位分析算法
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