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电阻率测试仪
山东大学
德国Hologenix，WT150mm
山东省
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检测范围

非接触式半绝缘晶片电阻率测试系统 测量量程1E5-1E12 onm-cm

仪器参数

150mm*150mm的台面和150mm直径的载物台 激光切割的晶片模板用于保护晶片并方便晶片的放置与中心定位。工作温度范围：18-25摄氏度 自动控制的非接触式探针定位 带网卡和平板显示器的高性能计算机 友好的菜单式操作界面 美国版本windows xp操作系统 载物台的温度测量以修正电阻率。
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