X射线粉末衍射仪(XRD)
同济大学
Bruker,D8-A25
上海市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

粉末物质物相分析,纳米物质晶粒大小测定,晶格常数测定等

仪器参数

Cu靶,Ni滤片,陶瓷光管,电压≤2.4kV、高压:10-55kV, 电流:5-50mA , 测角仪系统:θ/2θ,精度±0.0001°,闪烁计数器
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