扫描式电子显微镜(无)
同济大学
日本日立,S-2360N|| ||25KV,4NM
上海市
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检测范围

扫描电子显微镜广泛应用于金属材料、无机非金属材料、高分子材料等各类固体材料的表面微观形貌观察,S-2360N具有二次电子探测、背散射电子探测以及低真空模式,并可通过所附带的能谱分析仪进行微区成份分析。

仪器参数

放大倍数:30X ~ 200,000X
分辨率: 3 nm
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