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X射线衍射仪(无)
同济大学
BRUKER，D8
上海市
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检测范围

主要用途：对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析（包括最新的无标样定量分析功能）、基本参数法线形分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒大小及微观应力分析

仪器参数

Tube Power 40KV 40mA
Maximum allowed 2？ deviation: ±0.01° 2？
I(min)=22.0, I(exp)=24.4, I(max)=26.8
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