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场发射冷冻透射电子显微镜(null)
所在单位：	北京大学
品牌/型号：	FEI，Tecnai G2F30
所在地区：	北京市
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高性能 TEM 成像和纳米分析；稳定的低偏差、液氦冷却样品杆、精密的高倾角 (± 70°) 旋转样品杆，广泛的多样品定向记录（二维电子晶体学和高分辨率细胞断层摄影）

加速电压：300KV；    电子枪：肖特基场发射电子枪；
点分辨率：0.205 nm；　线分辨率：0.102 nm；  信息分辨率：0.14nm；； EELS分辨率：0.65eV；
放大倍数:  TEM 模式 60X—1000KX
样品台最大倾转角：+/- 70o

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