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半导体参数分析仪(Semiconductor Characterization System)
湖南大学
Keithley，4200
湖南省
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检测范围

主要用于半导体微纳器件电学特性测试，以及相关半导体器件的测试，以及研发。

仪器参数

基于Windows的直观用户界面， 单仪器解决方案， 具有I-V、C-V、脉冲发生功能以及脉冲I-V测试功能， 包含支持各种技术的应用库。

仪器特色&服务特色

Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 222108
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