时间分辨荧光光谱仪
武汉理工大学
美国PTI,QM/TM/NIR
湖北省
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检测范围

时间分辨荧光光谱仪是研究分子能级及分子间相互作用的手段,可测量材料在光激发条件下的激发谱(激发波长:200-980nm)、稳态和瞬态荧光发射谱激发(发射波长:200-1700nm)、荧光寿命(荧光寿命范围:100ps-100us)等,用于研究多功能协同调控高效节能镀膜玻璃材料,如:低

仪器参数

1)稳态和瞬态荧光波长测定范围:200-1700nm; 2)荧光寿命范围:100ps-100us; 3)信噪比:≥10000:1; 4)散光抑制率:≤10-9; 5)光谱分辨率:≤0.1nm 6)荧光寿命测定模式:TCSPC时间相关的单光子计数技术; 7)荧光寿命测定光源:半导体LED或脉冲半导体激光器,五种光源波长:280 nm, 320 nm, 380或390 nm, 460或470 nm。
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