高分辨透射电子显微镜
北京理工大学
日本电子株式会社,JEM-2100F
北京市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

1.高亮度场发射电子枪; 2.束斑尺寸小于0.5nm; 3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移; 4.稳定性好、操作简便;

仪器参数

点分辨率:0.19nm; 线分辨率:0.14nm; TEM分辨率:0.20nm;放大倍率: 2000-1,500,000 X ;加速电压:200kV ; 倾斜角:±25°;能谱仪:4Be ~ 92U。
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