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电子探针(Elecaron Probe Microanalyzer)
中国地质科学院地质研究所
日本JEOL，JXA8100
北京市
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检测范围

高倍SEI、BSE电子图像，nm级微区上的矿物常量微量成分的定性，半定量、定量分析及线面元素分布。

仪器参数

40-30万倍SEI、BSE图像，分辨率5nm，0-30KV；EDS分辨率

仪器特色&服务特色

产出大量精确的矿物微区元素定量数据，推进了地质科学进步。
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