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扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
合肥工业大学
日本电子株式会社，JSM-6490LV
安徽省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

主要用于观察材料表面的微细组织、断口形貌；能普仪主要对材料表面微区成分进行定性和定量分析；EBSD主要用于分析样品的晶体取向与结构。

仪器参数

主机：钨灯丝照明点分辨率：3nm 加速电压：0.5~30kV 放大率：×5~300000 X射线能谱仪系统： INCA能谱仪：Si(Li)探测器分辨率(MnKa)：133eV 分析元素：5B~92U EBSD：空间分辨率：低至×10nm量级 (FEG-SEM) 角分辨率：

仪器特色&服务特色

中钢天源、铜陵天源、铜冠国轩等企业。
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