检测范围
（1）痕量及超痕量多元素分析； （2）同位素比值分析
仪器参数
低质量数 Be(9): 0.5 ppt;
中质量数 In(115): 0.1 ppt
高质量数 Bi(209): 0.1 ppt
3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+: 1.5 %(7700x); 3.0 %(7700s);
4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+: 3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
6. 质谱范围：2 - 260 amu;
7 丰度灵敏度
低质量端: 5 x 10-7
高质量端: 1 x 10-7
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