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电子探针(Electron Probe Microanalyzer)
国家海洋局第二海洋研究所
Jeol（日本电子株式会社），JXA-8100
浙江省
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检测范围

主要用于物质的化学组成分析和显微结构观察（二次电子像、背散射像、X射线像、定性和定量点分析、线扫描、面扫描等）

仪器参数

二次电子分辨率：6nm；可测元素范围：5B-92U；加速电压：0.2-30kV；放大倍数：40~300，000；束流稳定性：0.05%/h，0.3/%/12h

仪器特色&服务特色

中国地质大学（武汉），中科院广州地化所，浙江大学，海洋二所
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