检测范围
用于测定单晶分子的准确三维立体结构（包括键长、键角、构型、构像及成键电子密度等）及分子在晶格中的排列状况；中小分子直至大分子晶体的分子结构分析，绝对构型测定及精密电子密度测定，广泛应用于化学，分子生物学，药物学，物理学，矿物学和材料科学等方面的分析研究。
仪器参数
各轴角度范围及角度重现性：2q： 360°，≤0.0001°/ ω：360°，≤0.0001°/j：360°，≤0.0005°；
各轴最高定位速度 ≥1500°/min
CCD 束锥比 1：1; 无空间畸变；>70% 透光率；
4K CCD芯片，像素4096 x 4096
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