电子扫描显微镜(Scanning Electron Microscope(SEM))
中国地质科学院地质研究所
日立,S-3000
北京市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

对矿物及古生物进行表面微形貌分析;对矿物进行阴极发光成像研究。

仪器参数

分辨率4nm;加速电压0.3-30kv;放大倍率5-300000。

仪器特色&服务特色

样品外形貌、背散射分析,锆石等矿物的阴极发光照相.
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