场发射透射电子显微镜(FieldEmissionTransmissionElectronMicroscopy)
武汉理工大学
日本电子,JEM2100F
湖北省
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检测范围

显微形貌,结构和微区成分分析

仪器参数

点分辨率0.23nm线分辨率0.12nm成分分析范围B5-U92
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