电子探针(Electron Probe)
中国地质科学院矿产资源研究所
日本电子株式会社,JXA-8230
北京市
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分析仪器

检测范围

矿物岩石、材料的化学组成定性和定量分析,矿物岩石、材料的化学组成线和面分析,矿物岩石、材料的高分辨二次电子像、背散射电子像观察分析,特定矿物的微区化学年龄测定分析

仪器参数

可分析B-U元素,分析精度:好于1%(主元素,含量>5%)和5%(次要元素,含量~1%)

仪器特色&服务特色

中国地质科学院、中国地质大学、北京大学等科研院所和高校的科研项目和学生论文
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