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200KV透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
中山大学
日本电子，JEM-2010(HR)
广东省
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检测范围

高分辨透射电子显微分析

仪器参数

点分辨率 ： 0.23 nm   晶格分辨率 ： 0.14 nm  最高电压 ：200 kV 放大倍数： x 2,000 ~ x 1,500,000
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