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扫描电子显微镜(Scanning electron microscope)
武汉大学
日立公司，S34OON
湖北省
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检测范围

通过二次电子信号来观察样品的表面形态

仪器参数

SE分辨率：3.0nm(30KV),高真空模式，10nm(3KV),低真空模式，放大倍率：＊5-＊300，000，加速电压：0.3-30KV
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