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开尔文探针系统(Scanning Kelvin Probe System)
合肥工业大学
KP公司，SKP5050,*
安徽省
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检测范围

适用于各类材料表面电子逸出功函数的研究，可二维扫描测试样品表面功函数的分布。

仪器参数

1、探针直径为2mm和50μm，相应功函数分辨率为1～3 meV和5～10 meV；
2、高度控制范围０～25mm以上，位置精度优于±0.4mm；
3、可二维扫描，跟踪系统自动保持探针与样品表面的距离不大于0.4μm。

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