多模式扫描探针显微镜
江南大学
美国安捷伦科技有限公司,5100AFM/SPM
江苏省
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检测范围

薄膜材料表面形貌表征;粉体材料分析;晶体表面结构表征;生化过程观察等。

仪器参数

1.AFM探头和SPM探头。
2.测试样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。
3.XY最大扫描范围:100X100微米。
4.XY向分辨率:0.4nm(轻敲模式);0.25nm(AFM模式)。
5.Z向分辨率:0.05nm(轻敲式);0.03nm(AFM模式)。
6.XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米。
7.步进马达半自动进行针尖-样品逼近。
8.连续变倍彩色CCD显微观察系统。
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