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X射线荧光光谱仪(X-ray fluorescence spectrometer)
北京科技大学
华尔达科贸，XRF-1800
北京市
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检测范围

分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定； 荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便； 分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差； 分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

仪器参数

可进行定性加半定量测量，测量范围从O到U间的所有元素，可用元素或氧化物形式表述，可进行粉末（150~200目间）和块状（直径35~40mm间)及薄膜测量。
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