场发射透射电子显微镜
中国科学院上海硅酸盐研究所
日本电子株式会社,JEM-2100F
上海市
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检测范围

材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析;成分的定性和半定量分析;元素的点、线和面分析
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