多功能超高分辨电子束刻蚀系统(Multifunctional ultrahigh resolution electron beam lithography)
北京大学
RAITH,e-LINE plus
北京市
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检测范围

多功能超高分辨电子束刻蚀系统包含电子束光刻,扫描电镜成像,电子束原位诱导沉积和刻蚀,纳米操纵和光谱分析,以及三维光刻等功能。

仪器参数

特征尺度小于10纳米,线间距小于40纳米,样品尺寸4英寸。

仪器特色&服务特色

发表三大检索论文20篇,科研项目5项
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